TOP 装置一覧 各種マニュアル 設置場所・アクセス
低分子化合物分析装置  光学・蛍光顕微鏡  吸光・蛍光・発光系検出器  培養装置  核酸・タンパク質分析装置 
サンプル調製装置  フェノタイピング装置  RI管理区域内装置  機器分析実験施設内装置  理学部棟内装置 
〇機器分析実験施設内装置

単結晶X線回折装置

型番：Rigaku Mercury-CCD
設置場所：機器分析実験施設 101
管理者：森福　洋二

◆使用用途・注意事項





生体高分子構造解析装置(NMR400)

型番：BRUKER SPECTROSPIN NMR Av400
設置場所：機器分析実験施設 102
管理者：谷　誠治（理）

◆使用用途・注意事項
・薬品、高分子材料、タンパク質などの炭素、酸素、水素、窒素、リン等の原子からなる有機物の測定
　カップリング、スピン結合定数、化学シフト、核種の存在比等が測定可能



生体高分子構造解析装置(NMR500)

型番：BRUKER SPECTROSPIN NMR Av500
設置場所：機器分析実験施設 102
管理者：谷　誠治（理）

◆使用用途・注意事項





電子線マイクロプローブアナライザー

型番：Jeol EPMA JXA-8230
設置場所：機器分析実験施設 103
管理者：森福　洋二

◆使用用途・注意事項





走査型分析電子顕微鏡(SEM)

型番：Jeol SEM JSM-6360LA
設置場所：機器分析実験施設 104
管理者：森福　洋二

◆使用用途・注意事項





走査型プローブ顕微鏡

型番：Hitachi High-Technologies SPI3800N・SPA400
設置場所：機器分析実験施設 304
管理者：森福　洋二

◆使用用途・注意事項





フーリエ変換赤外分光光度計装置

型番：Thermo Fisher Scientific Nicolet iN10
設置場所：機器分析実験施設 305
管理者：安達　健太（理）

◆使用用途・注意事項
・有機化合物に赤外線を照射し、得られる吸収スペクトルによる官能基の決定




蛍光X線分析装置

型番：Rigaku ZSX Primus-μ
設置場所：機器分析実験施設 306
管理者：森福　洋二

◆使用用途・注意事項





プラズマ発光分光分析装置

型番：Agilent Technorogies ICP-OES 5110
設置場所：機器分析実験施設 105
管理者：

◆使用用途・注意事項
・溶液サンプル中の元素の定性・定量
・有機溶媒にも対応



元素分析装置

型番：PERKIN ELMER 2400ⅡCHNS-O
設置場所：機器分析実験施設 202
管理者：

◆使用用途・注意事項





ガスクロマトグラフ質量分析装置

型番：Shimadzu GC-MS QP2010 Plus
設置場所：機器分析実験施設 302
管理者：

◆使用用途・注意事項
・有機化合物の定性・定量